2020年11月16日
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“大长径比复合纳米探针可控制备及可溯源测量方法”科技成果鉴定圆满结束



发布时间:2020-11-16 09:03:43


“大长径比复合纳米探针可控制备及可溯源测量方法”
科技成果鉴定圆满结束
 
       2020年11月08日,中国计量测试学会组织有关专家对西安交通大学完成的“大长径比复合纳米探针可控制备及可溯源测量方法”科技成果进行了鉴定。
       哈尔滨工业大学谭久彬院士、中国科学技术大学黄文浩教授、中国计量科学研究院高思田研究员、北京工业大学石照耀教授、天津大学邾继贵教授、华中科技大学刘世元教授、河北工业大学张宗华教授作为鉴定委员参加了鉴定会。
       鉴定会由谭久彬院士主持。鉴定委员会听取了项目组人员所作的项目工作总结、技术研究报告、查新报告、应用和效益情况等;听取了测试组组长汇报的测试报告以及用户介绍的使用情况。同时,观看了项目组录制的现场视频。
       该项目由西安交通大学杨树明教授团队完成。项目针对复杂微纳结构可溯源测量需求,开展了纳米探针相关理论、方法和技术的创新研究,并研制出了具有独立自主知识产权的碳纳米管探针、纳米光学探针、纳米复合探针以及测量装置,实现了小于10纳米的特征尺度以及大深宽比微纳结构测量,         目前在国内外尚未见报道。经鉴定会全体评审专家认真评审,一致认为:项目研究成果总体达到国际先进水平,其中碳纳米管探针、纳米光学探针和纳米复合探针达到了国际领先水平。
       该项目开发的相关技术已经应用于国家计量科学研究院等10余家单位,有力促进了我国纳米测试计量领域的发展,具有显著的社会效益和经济效益。







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