2026年8月30日，中国计量测试学会通过线上会议组织专家，对上海理工大学、苏州慧利仪器有限责任公司、中国计量科学研究院、中国科学院上海高等研究院、上海市计量测试技术研究院有限公司联合完成的“超光滑曲面元件绝对面形光学干涉计量关键技术及应用”科技成果进行了评价。

       评价委员会由长春理工大学姜会林院士担任主任委员、中国计量科学研究院方向研究员担任副主任委员。北京长城计量测试技术研究所张力研究员、中国测试技术研究院薛靓研究员、中国计量科学研究院张恒研究员、辽宁省计量科学研究院石作德教授研究员级高级工程师、张江国家实验室刘军研究员作为评价专家参加会议。评价委员会听取了项目组的成果汇报，审阅了查新报告、测试报告等相关材料，并进行了认真质询和讨论。经评价委员会全体专家评审，一致认为：项目成果关键技术难度大，创新性强，取得多项自主知识产权，总体技术达到国际先进水平；其中球面和柱面两位置绝对面形检测数学解析方法填补国际空白、核心技术达到国际领先水平。项目针对众多领域对超光滑曲面元件绝对面形检测的迫切需求，突破了球面和柱面绝对面形检测中的多项关键技术，相关成果已在计量机构、大科学装置和高端工业检测等领域得到应用，为高端光学制造和精密计量提供了有力的技术支撑。